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  • THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和光伏產(chǎn)業(yè)。該設(shè)備具備多種尖duan技術(shù),能夠提供高精度的測(cè)量結(jié)果和詳細(xì)的圖像。TP 630 設(shè)備具有紅外激光掃描光學(xué)器件和雙色高溫計(jì),可以測(cè)量晶圓厚度、地形和表面粗糙度等參數(shù),最大吞吐量為每小時(shí)600個(gè)晶圓。

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    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計(jì)量?jī)x是一種先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,主要用于精確測(cè)量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采用光學(xué)技術(shù),能夠?qū)χ睆竭_(dá)300毫米的晶圓進(jìn)行高精度的CD(Critical Dimension)測(cè)量和形狀測(cè)量。

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    產(chǎn)品價(jià)格:面議
    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測(cè)儀是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域。該設(shè)備具有高精度和可重復(fù)性的特點(diǎn),能夠提供精確的微觀級(jí)測(cè)量能力。它配備了易于使用的裝載端口、機(jī)器人和光學(xué)檢查功能,以及多軸平臺(tái),用于實(shí)現(xiàn)精確的微米級(jí)測(cè)量。Puma 9100 還集成了圖像傳感器和智能系統(tǒng),以確保光學(xué)測(cè)量的準(zhǔn)確性,并且具備自動(dòng)化的樣品處理能力,可以進(jìn)行檢查區(qū)域的成像

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    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測(cè)儀 是一款優(yōu)良的晶圓檢測(cè)和計(jì)量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak™暗視野成像技術(shù),成功克服了傳統(tǒng)掃描激光與光電倍增管(PMT)式檢測(cè)系統(tǒng)的限制,從而達(dá)到業(yè)界領(lǐng)xian的效能。

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    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測(cè)儀是一款優(yōu)良的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度檢測(cè)。該系統(tǒng)采用超紫外(UV)模式匹配技術(shù)和最新一代的Datalite軟件,能夠以極gao的速度和精度檢測(cè)出1/10000毫米大小的小缺陷。此外,它還具備激光掃描功能,可以進(jìn)行300mm晶圓的雙暗場(chǎng)光學(xué)檢查,具有更高的吞吐量和靈敏度,適用于65nm生產(chǎn)需求。

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    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測(cè)儀是一款功能強(qiáng)大且高效的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,通過(guò)其先進(jìn)的檢測(cè)技術(shù)、自動(dòng)化功能和模塊化設(shè)計(jì),能夠顯著提升半導(dǎo)體制造過(guò)程中的缺陷檢測(cè)能力和生產(chǎn)效率。該系統(tǒng)能夠在80秒內(nèi)完成整個(gè)圖案化晶圓的檢查,并且具有較高的缺陷捕獲率,這使得其相比現(xiàn)有系統(tǒng)可以提高多達(dá)75%的吞吐量。KLA-Tencor AIT XP 使用暗場(chǎng)顯微鏡技術(shù)進(jìn)行缺陷檢測(cè),結(jié)合混合模式檢測(cè).

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    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓測(cè)試和計(jì)量系統(tǒng),專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)具有多種功能和特點(diǎn),使其在晶圓缺陷檢測(cè)和過(guò)程控制方面表現(xiàn)出色。 KLA-Tencor AIT II 支持不同尺寸的晶圓,包括200mm、300mm甚至450mm。它采用雙暗場(chǎng)檢查工具,并具備SECS/GEM通信接口,能夠?qū)崿F(xiàn)高通量的自動(dòng)化測(cè)試。

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    更新日期:2025-04-29
  • KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。 該系統(tǒng)配置為處理6英寸(150毫米)和8英寸(200毫米)的晶圓,并具備自動(dòng)對(duì)焦和雙暗場(chǎng)檢查功能。 此外,它還配備了多通道采集光學(xué)系統(tǒng)、獨(dú)立可編程的空間濾波器以及X/Y驅(qū)動(dòng)/控制器機(jī)架和運(yùn)動(dòng)控制器卡。

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    更新日期:2025-04-29
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